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        1. 产品列表PRODUCTS LIST

          角分辨光谱测量

          简要描述:

          RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角分辨率达0.05°。。

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          角分辨光谱测量

          材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率会因入射角度变化而变化。。通过测量不同角度入射,研究材料的最敏感角度,为进一步研究或设计测量仪器提供依据。。

          RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角分辨率达0.05°。。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置),电脑软件选择发射端和接收端的角度,实现快速的光谱测量,能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。。

          入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架,可以放置一个偏振片和滤波片。。接收端带有一个滤波片架,可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。。

           

          应用领域

          LED光源等

          材料镀膜

          光子晶体器件

          液晶显示

          传感器器件制备

          角度材料相关分析

          纳米光学材料

           

          主要特点

          全角度测量:发射端角度范围0°至180°,接收端角度范围0°至360°,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。。

          精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异。。

          多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。。

          可编程测量模式:可以通过编程,来实现自动多角度光谱测量。。

          自由测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角,实现光谱测量。。

          可选配件多样:根据客户的不同测量应用,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。。

          多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。。

           

          光谱角度测量模式

          反射测量(上反射/下反射)模式 透射测量模式
          散射/荧光测量械 辐射测量模式

           

          参数指标

          参数指标
          参数/型号 RTM-VA RTM-VAS
          光谱范围 360-2500nm 360-2500nm
          光源 含钨灯光源 含钨灯光源和积分球
          光斑大小 最小3mm 最小5mm
          入射角范围 0-180° 0-180°
          接收角范围 0-360° 0-180°
          角度分辨率 0.05°
          测量对象 平面样品、发光样品 镜面样品、曲面样品
          应用 反射、透射、散射、荧光测量 反射率、透过率测量

          可选配件

          紫外扩展模块
          RTM-UV 250-2500NM
          光谱仪
          USB2000+ 350-1000nm
          QEPRO 350-1100nm
          NIRQUEST 900-2500nm
          光源
          DH-2000 220-2500nm
          偏振片
          PLine-UV  
          PLine-VIS-A 400-700nm
          PLine-VIS-B 600-1100nm
          PLine-NIR-A 1050-1700nm

           

           

           

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